详细摘要: 产品信息 特 点 可测从0nm开始的低(残留)相位差 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.) (相当于快速的0.1秒以下来处理) 无驱动部,重复再现性高 设置的...
产品型号:所在地:更新时间:2023-06-10 在线留言大塚电子(苏州)有限公司
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